无损检测工业X射线系统焦点特性第4部分：边缘方法GB/T 25758.4-2010

2013-09-09 | 浏览: 评论: 0 收藏

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1范围
GB／T 25758的本部分规定了采用清晰边缘的射线照相底片，来校验管电压最高至500 kV的工业x射线系统的大于0．5 mm焦点尺寸的方法。
x射线图像的像质和分辨力很大程度上取决于焦点的特性。焦点成像质量基于目标平面的二维强度分布。

无损检测工业X射线系统焦点特性 第4部分：边缘方法GB/T 25758.4-2010